Publikace

• 2024

  Zhang, ZH.; Zhou, LW.; Chen, ZX.; Jaros, A.; Kolíbal, M.; Bábor, P.; Zhang, QZ.; Yan, CL.; Qiao, RX.; Zhang, Q.; Zhang, T.; Wei, W.; Cui, Y.; Qiao, JS.; Liu, LW.; Bao, LH; Yang, HT.; Cheng, ZH.; Wang, YL.; Wang, EG.; Liu, Z.; Willinger, M.; Gao, HJ.; Liu, KH.; Ji, W.; Wang, ZJ. Layer-by-layer growth of bilayer graphene single-crystals enabled by proximity catalytic activity. Nano Today, 2024, roč. 59, č. 102482, ISSN: 1878-044X.
  Detail | WWW

• 2023

  UKROPCOVÁ, I.; DAO, R.; ŠTUBIAN, M.; KOLÍBAL, M.; ŠIKOLA, T.; WILLINGER, M.; WANG, Z.; ZLÁMAL, J.; BÁBOR, P. Electron Tractor Beam: Deterministic Manipulation of Liquid Droplets on Solid Surfaces. Advanced Materials Interfaces, 2023, roč. 10, č. 2, ISSN: 2196-7350.
  Detail | WWW | Plný text v Digitální knihovně

  Wang, ZJ.; Kong, X.; Huang, YA.; Li, J.; Bao, LH.; Cao, KC.; Hu, YX.; Cai, J.; Wang, LF.; Chen, H.; Wu, YS.; Zhang, YW.; Pang, F.; Cheng, ZH.; Babor, P.; Kolibal, M.; Liu, ZK.; Chen, YL.; Zhang, Q.; Cui, Y.; Liu, KH.; Yang, HT.; Bao, XH.; Gao, HJ.; Liu, Z.; Ji, W.; Ding, F.; Willinger, MG. Conversion of chirality to twisting via sequential one-dimensional and two-dimensional growth of graphene spirals. Nature Materials, 2023, roč. 1, č. 1, s. 1-205. ISSN: 1476-4660.
  Detail | WWW

• 2022

  Sen, HS.; Daghbouj, N.; Callisti, M.; Vronka, M.; Karlik, M.; Duchon, J.; Cech, J.; Lorincik, J.; Havranek, V.; Babor, P.; Polcar, T. Interface-Driven Strain in Heavy Ion-Irradiated Zr/Nb Nanoscale Metallic Multilayers: Validation of Distortion Modeling via Local Strain Mapping. ACS applied materials & interfaces, 2022, roč. 14, č. 10, s. 12777-12796. ISSN: 1944-8252.
  Detail | WWW

• 2021

  MACKOVÁ, A.; FERNANDES, S.; MATĚJÍČEK, J.; VILÉMOVÁ, M.; HOLÝ, V.; LIEDKE, M.O.; MARTAN, J.; VRONKA, M.; POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; BUTTERLING, M.; ATTALLAH, A.G.; HIRSCHMANN, E.; WAGNER, A.; HAVRANEK, V. Radiation damage evolution in pure W and W-Cr-Hf alloy caused by 5 MeV Au ions in a broad range of dpa. Nuclear Materials and Energy, 2021, roč. 29, č. 1, s. 101085-1 (101085-15 s.)ISSN: 2352-1791.
  Detail | WWW

  DAGHBOUJ, N.; CALLISTI, M.; SEN, H. S.; KARLIK, M.; ČECH, J.; VRONKA, M.; HAVRÁNEK, V.; ČAPEK, J.; MINÁRIK, P.; BÁBOR, P.; POLCAR, T. Interphase boundary layer-dominated strain mechanisms in Cu+ implanted Zr-Nb nanoscale multilayers. Acta materialia, 2021, roč. 202, č. 1, s. 317-330. ISSN: 1359-6454.
  Detail | WWW

  UKRAINTSEV, E.; KROMKA, A.; JANSSEN, W.; HAENEN, K.; TAKEUCHI, D.; BÁBOR, P.; REZEK, B. Electron emission from H-terminated diamond enhanced by polypyrrole grafting. CARBON, 2021, roč. 176, č. 1, s. 642-649. ISSN: 0008-6223.
  Detail | WWW

  VANĚK, T., HÁJEK, F., DOMINEC, F., HUBÁČEK, T., KULDOVÁ, K., PANGRÁC, J., KOŠUTOVÁ, T., KEJZLAR, P., BÁBOR, P., LACHOWSKI, A., HOSPODKOVÁ, A. Luminescence redshift of thick InGaN/GaN heterostructures induced by the migration of surface adsorbed atoms. JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2021, roč. 565, č. 1, s. 126151-126151. ISSN: 0022-0248.
  Detail | WWW

• 2019

  GRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; VOJTOVÁ, L. Antibacterial Selenium Nanoparticles and their Effect on Properties of Polymer-Phosphate Bone Cement. eCM Periodical. eCM Periodical, 2019. s. 26-26. ISSN: 2522-235X.
  Detail | WWW

  KUNC, J.; REJHON, M.; DĚDIČ, V.; BÁBOR, P. Thickness of sublimation grown SiC layers measured by scanning Raman spectroscopy. Journal of Alloys and Compounds, 2019, roč. 789, č. 1, s. 607-612. ISSN: 0925-8388.
  Detail | WWW

  HOLEŇÁK, R.; SPUSTA, T.; POTOČEK, M.; SALAMON, D.; ŠIKOLA, T.; BÁBOR, P. 3D localization of spinel (MgAl2O4) and sodium contamination in alumina by TOF-SIMS. MATERIALS CHARACTERIZATION, 2019, roč. 148, č. 1, s. 252-258. ISSN: 1044-5803.
  Detail | WWW

  GRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; VOJTOVÁ, L. Antibacterial polymer-phosphate bone cement targeted on the osteomyelitis treatment. Czech Chemical Society Symposium Series 17 (1) XIX. Interdisciplinary Meeting of Young Biologists, Biochemists and Chemists. Czech chemical society symposium series. Praha: Czech Chemical Society, 2019. s. 11-11. ISSN: 2336-7202.
  Detail | WWW

• 2018

  GRÉZLOVÁ, V.; VOJTOVÁ, L.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P. Thixotropic polymer-phosphate bone filler modified with antibacterial selenium nanoparticles. Biomateriály a jejich povrchy XI. Praha: České vysoké učení technické v Praze, 2018. s. 75-76. ISBN: 978-80-01-06471-9.
  Detail

  ŠIK, O.; BÁBOR, P.; POLČÁK, J.; BELAS, E.; MORAVEC, P.; GRMELA, L.; STANĚK, J. Low Energy Ion Scattering as a depth profiling tool for thin layers - Case of bromine Methanol etched CdTe. Vacuum, 2018, č. 152, s. 138-144. ISSN: 0042-207X.
  Detail | WWW

  GRÉZLOVÁ, V.; MICHLOVSKÁ, L.; ŠMERKOVÁ, K.; KOPEL, P.; ADAM, V.; KOČIOVÁ, S.; BÁBOR, P.; DIVIŠ, P.; POLÁČEK, P.; VOJTOVÁ, L. The Effect Of Antibacterial Selenium Nanoparticles On The Properties Of Polymer-Phosphate Bone Fillers. 7th Meeting on Chemistry and Life 2018. Book of abstracts. Brno: Vysoké učení technické v Brně, Fakulta chemická, Purkyňova 464/118, 612 00 Brno, 2018. s. 136-136. ISBN: 978-80-214-5488-0.
  Detail

  BÁBOR, P. Komparativní analýza vrstevnatých struktur metodou SIMS. 2018. s. 1 (1 s.).
  Detail

• 2017

  JIANG, L.; XIAO, N.; WANG, B.; GRUSTAN-GUTIERREZ, E.; JING, X.; BÁBOR, P.; KOLÍBAL, M.; LU, G.; WU, T.; WANG, H.; HUI, F.; SHI, Y.; SONG, B.; XIE, X.; LANZA, M. High-resolution characterization of hexagonal boron nitride coatings exposed to aqueous and air oxidative environments. Nano Research, 2017, roč. 10, č. 6, s. 2046-2055. ISSN: 1998-0000.
  Detail | WWW

• 2016

  ŠIK, O.; BÁBOR, P.; ŠKARVADA, P.; POTOČEK, M.; TRČKA, T.; GRMELA, L.; BELAS, E. Investigation of the effect of argon ion beam on CdZnTe single crystals surface structural properties. Surface and Coatings Technology, 2016, roč. 306, č. A, s. 75-81. ISSN: 0257-8972.
  Detail | WWW

  BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; ŠIKOLA, T. Příprava vzorků pro testování rozlišení. Brno: 2016. s. 1-14.
  Detail

• 2015

  PRŮŠA, S.; PROCHÁZKA, P.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T.; TER VEEN, R.; FARTMANN, M.; GREHL, T.; BRÜNER, P.; ROTH, D.; BAUER, P.; BRONGERSMA, H. Highly Sensitive Detection of Surface and Intercalated Impurities in Graphene by LEIS. Langmuir, 2015, roč. 31, č. 35, s. 9628-9635. ISSN: 0743-7463.
  Detail

  BÁBOR, P.; DUDA, R.; POLČÁK, J.; PRŮŠA, S.; POTOČEK, M.; VARGA, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Real-time observation of self-limiting SiO2/Si decomposition catalysed by gold silicide droplets. RSC Advances, 2015, roč. 5, č. 123, s. 101726-101731. ISSN: 2046-2069.
  Detail

• 2014

  STEVIE, F.; SEDLÁČEK, L.; BÁBOR, P.; JIRUŠE, J.; PRINCIPE, E.; KLOSOVÁ, K. FIB-SIMS quantification using TOF- SIMS with Ar and Xe plasma sources. Surface and Interface Analysis, 2014, roč. 46, č. S1, s. 285-287. ISSN: 0142- 2421.
  Detail

• 2013

  BER, B.; BÁBOR, P.; BRUNKOV, P.; CHAPON, P.; DROZDOV, M.; DUDA, R.; KAZANTSEV, D.; POLKOVNIKOV, V.; YUNIN, P.; TOLSTOGOUZOV, A. Sputter depth profiling of Mo/B4C/Si and Mo/Si multilayer nanostructures: A round- robin characterization by different techniques. Thin Solid Films, 2013, roč. 540, č. 1, s. 96-105. ISSN: 0040- 6090.
  Detail

• 2011

  BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; ČECHAL, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Depth resolution enhancement by combined DSIMS and TOF- LEIS profiling. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2011, roč. 269, č. 3, s. 369-373. ISSN: 0168- 583X.
  Detail

  BÁBOR, P.; LYSÁČEK, D.; ŠIK, J. Polycrystalline Silicon Layers with Enhanced Thermal Stability. Solid State Phenomena, 2011, roč. 178- 179, č. 385, s. 385-391. ISSN: 1662- 9779.
  Detail

  BÁBOR, P.; MAŠEK, K. Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů. Materials Structure, 2011, roč. 2011, č. 18, s. 251-257. ISSN: 1211- 5894.
  Detail

• 2010

  URBÁNEK, M.; UHLÍŘ, V.; BÁBOR, P.; KOLÍBALOVÁ, E.; HRNČÍŘ, T.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Focused ion beam fabrication of spintronic nanostructures: an optimization of the milling process. NANOTECHNOLOGY, 2010, roč. 21, č. 14, s. 145304- 1 (145304-7 s.)ISSN: 0957-4484.
  Detail

  MATLOCHA, T.; PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; PRIMETZHOFER, D.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. A study of a LEIS azimuthal scan behavior: Classical dynamics simulation. Surface Science, 2010, roč. 604, č. 21- 22, s. 1906-1911. ISSN: 0039- 6028.
  Detail

  ČECHAL, J.; POLČÁK, J.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Formation of copper islands on a native SiO2 surface at elevated temperatures. Applied Surface Science, 2010, roč. 256, č. 11, s. 3636-3641. ISSN: 0169- 4332.
  Detail

  POLČÁK, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; URBÁNEK, M.; PRŮŠA, S.; ŠIKOLA, T. Angle-resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method. Surface and Interface Analysis, 2010, roč. 42, č. 5- 6, s. 649-652. ISSN: 0142- 2421.
  Detail

• 2009

  POTOČEK, M.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Využití termální desorpční spektroskopie při studiu povrchové kontaminace. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 217-218. ISSN: 0447- 6441.
  Detail

  MAŠEK, K.; VÁCLAVŮ, M.; BÁBOR, P.; MATOLÍN, V. Sn-CeO2 thin films prepared by rf magnetron sputtering: XPS and SIMS study. Applied Surface Science, 2009, roč. 255, č. 13- 14, s. 6656-6660. ISSN: 0169- 4332.
  Detail

  POLČÁK, J.; BÁBOR, P.; ČECHAL, J.; ŠIKOLA, T. Manipulátor vzorku pro rentgenovou fotoelekronovou spektroskopii do velmi vysokého vakua. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 215-216. ISSN: 0447- 6441.
  Detail

  BÁBOR, P.; DUDA, R.; PRŮŠA, S.; MATLOCHA, T.; KOLÍBAL, M.; KALOUSEK, R.; NEUMAN, J.; URBÁNEK, M.; ŠIKOLA, T. Mechanika iontů jako prostředek k analýze nanosvěta. Jemná mechanika a optika, 2009, roč. 54, č. 7- 8, s. 209-214. ISSN: 0447- 6441.
  Detail

• 2007

  ČECHAL, J.; MACH, J.; VOBORNÝ, S.; KOSTELNÍK, P.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A study of Ga layers on Si(100)-(2x1) by SR-PES: influence of adsorbed water. Surface Science, 2007, roč. 601, č. 9, s. 2047-2053. ISSN: 0039- 6028.
  Detail

  PRŮŠA, S.; KOLÍBAL, M.; BÁBOR, P.; MACH, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF- LEIS. ACTA PHYSICA POLONICA A, 2007, roč. 111, č. 3, s. 335-341. ISSN: 0587- 4246.
  Detail

• 2006

  KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; KOSTELNÍK, P.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by ToF- LEIS. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B, 2006, roč. 249, č. 1- 2, s. 318-321. ISSN: 0168- 583X.
  Detail

• 2005

  KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; TOMANEC, O.; POTOČEK, M.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. Application of ToF LEIS for Monitoring the growth and thermal treatment of Ga ultrathin films. 1. Vienna: 2005. s. 191-191.
  Detail

  BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Seville: 2005.
  Detail

  ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. A Study of Gallium Growth on Si(111) 7x7 by SRPES. 1. Vienna: 2005. s. 259-259.
  Detail

  BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; URBÁNEK, M.; MACH, J.; SPOUSTA, J.; DITTRICHOVÁ, L.; SOBOTA, J.; BOCHNÍČEK, Z.; ŠIKOLA, T. Depth Profiling of Ultrathin Films and Their Multilayers by DSIMS. 1. Manchester: 2005. s. 178-178.
  Detail

  KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; PLOJHAR, M.; BÁBOR, P.; POTOČEK, M.; TOMANEC, O.; MARKIN, S.; BAUER, P.; ŠIKOLA, T. In situ Analysis of Ga-ultra Thin Films by TOF- LEIS. 1. Seville: 2005.
  Detail

  VOBORNÝ, S.; MACH, J.; POTOČEK, M.; KOSTELNÍK, P.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Analysis of GaN Ultrathin Films grown by Direct Ion Beam Deposition. 1. Vienna: 2005. s. 117-117.
  Detail

• 2004

  VOBORNÝ, S., MACH, J., KOLÍBAL, M., ČECHAL, J., BÁBOR, P., POTOČEK, M., ŠIKOLA, T. A study of Early Periods of GaN Ultrathin Film Growth. In New Trends in Pysics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 270 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
  Detail

  VOBORNÝ, S.; MACH, J.; ČECHAL, J.; KOSTELNÍK, P.; TOMANEC, O.; BÁBOR, P.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Application of Complex UHV Apparaturus in a Study of Low-tepmerature Gallium- nitride Ultrathin Film Growth. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 265 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
  Detail

  KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Low energy ion scattering as a method for surface structure analysis. Jemná mechanika a optika, 2004, roč. 9, č. 9, s. 262 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
  Detail

  VOBORNÝ, S.; KOLÍBAL, M.; MACH, J.; ČECHAL, J.; BÁBOR, P.; PRŮŠA, S.; SPOUSTA, J.; ŠIKOLA, T. Deposition and in-situ charakterization of ultra- thin films. Thin Solid Films, 2004, roč. 459, č. 1- 2, s. 17 ( s.)ISSN: 0040- 6090.
  Detail

  KOLÍBAL, M.; PRŮŠA, S.; BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. ToF-LEIS Analysis of ultra thin films: Ga and Ga-N layer growth on Si(111). Surface Science, 2004, roč. 566- 568, č. 9, s. 885 ( s.)ISSN: 0039- 6028.
  Detail

  KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BARTOŠÍK, M., TOMANEC, O., ŠIKOLA, T. Growth of gallium on sillicon: A TOF- LEIS and AFM study. In New Trend in Physics. Brno: VUT v Brně, 2004. s. 230 ( s.)ISBN: 80-7355-024- 5.
  Detail

• 2003

  KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., BÁBOR, P., BAUER, P., ŠIKOLA, T. TOF-LEIS analysis of ultra thin films: Ga- and Ga-N layer growth on Si (111). In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. s. 0 ( s.)
  Detail

  BÁBOR, P., KOLÍBAL, M., PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T. Application of a simple imaging system in SIMS and TOF LEIS. In ECOSS 22 CD. Praha: FÚ AV ČR, 2003. s. 0 ( s.)
  Detail

  BÁBOR, P. Hloubkové profilování a 2D SIMS – současný stav. In Zpravodaj CVS 11(2). Praha: CVS, 2003. s. 23 ( s.)
  Detail

  PRŮŠA, S., KOLÍBAL, M., BÁBOR, P., MACH, J., JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T. Analysis of thin films by TOF LEIS. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 133 ( s.)
  Detail

  VOBORNÝ, S., KOLÍBAL, M., MACH, J., ČECHAL, J., BÁBOR, P., PRŮŠA, S., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T. Deposition and in situ characterization of ultra- thin films. In EVC' 03 Abstracts. Berlin: EVC, 2003. s. 45 ( s.)
  Detail

  BÁBOR, P.; ŠIKOLA, T. Zobrazení iontovým svazkem a 2D SIMS. Jemná mechanika a optika, 2003, roč. 48, č. 6, s. 178 ( s.)ISSN: 0447- 6441.
  Detail

• 2002

  TICHOPÁDEK, P., ŠIKOLA, T., NEBOJSA, A., NAVRÁTIL, K., ČECHAL, J., JURKOVIČ, P., BÁBOR, P. A Study of Thin Oxide Films by Ellipsometry and AR XPS. Surface and Interface Analysis, 2002, roč. 34, č. 1, s. 531 ( s.)ISSN: 0142- 2421.
  Detail

  ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., BÁBOR, P., BUŠ, V., ŠKODA, D., DUARTE, J. Application of SPM in surface studies and nanotechnology. 2002, roč. 47, č. 6- 7, s. 210 ( s.)ISSN: 0447- 6411.
  Detail

• 2001

  PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. s. 486 ( s.)ISBN: 80-214-1892- 3.
  Detail

  JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P., ČECHAL, J. Studium ultratenkých vrstevnatých struktur. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 364 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
  Detail

  PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P. Ion Scattering Spectrosopy - A Tool for Surface Analysis. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. s. 86 ( s.)
  Detail

  BÁBOR, P. Analýza povrchů tenkých vrstev metodou SIMS. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. s. 131 ( s.)
  Detail

  VOBORNÝ, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Deposition of Ultrathin Films - Optimalisation of Ion Beam Optics. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. s. 281 ( s.)
  Detail

  VOBORNÝ, S., ŠIKOLA, T., PRŮŠA, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Diagnostics and optimization of ion source parameters. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 304 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
  Detail

  BÁBOR, P. Analýza povrchů a tenkých vrstev metodu SIMS. In Juniormat ' 01 sborník. Brno: Fakulta strojního inženýrství VUT v Brně, 2001. s. 131 ( s.)
  Detail

  PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 404 ( s.)ISBN: 80-214-1992- X.
  Detail

• 2000

  LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., DITTRICHOVÁ, L., BÁBOR, P., DUARTE, J., MATĚJKA, F. Etching of Microstructures and Modification of Solid Surfaces by Low Energy Ion Beams. In MicroMat 2000. Berlin: Editors: B. Michel, T. Winkler, M. Werner,H. Fecht, 2000. s. 919 ( s.)
  Detail

  BÁBOR, P. In-situ monitorování povrchu pevných látek bombardovaných iontovým svazkem – návrh energiového filtru pro aplikaci v SIMS. In II. sborník příspěvků doktorandů, konference u příležitosti 100. výročí založení FSI. Brno: Vutium, 2000. s. 13 ( s.)
  Detail

*) Citace publikací se generují jednou za 24 hodin.