Zřízení vědeckého centra nanotechnologií a povrchového inženýrství integrací pracovišť, jejichž činnost bude věnována bezkontaktnímu zjišťování kvality povrchů, řešení důsledků interakce povrchů v technických a později i biologických objektech, vytváření prostorových mikrostruktur a manipulaci s mikroobjekty, optickému měření polohy mikročástic s přesností nanometrů a sil řádu pikonewtonů, řešení interakce iontových svazků s povrchem různých materiálů a mikroobrábění povrchů a mikroobjektů.

Popis anglicky
Foundation of a scientific center of nanotechnolagies and surface engineering consisting of laboratories aimed at noncontact investigation of the quality of surfaces, solution of problems resulting from the interaction between surfaces of technical and biological objects, generation of spatial microstructures and at manipulation of microobjects, optical measurement of the positian of microparticles with an accuracy of nanometres and for the measurement of forces in the order of piconewtons, investigation of ion beam interaction with variaus material surfaces, micromachining of surfaces and microobjects.

GV101/97/K009

čeština

Liška Miroslav, prof. RNDr., DrSc. - hlavní řešitel

Fakulta strojního inženýrství
- odpovědné pracoviště (1.1.1989 - nezadáno)
Fakulta strojního inženýrství
- příjemce (1.1.1997 - 31.12.1999)

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L.: Experiments and measurement in engineering physics education-EMEPE98. Brno (15.10.1998)
Detail

Near Field Optics and related techniques (NFO-4). Jerusalem (09.02.1997)
Detail

TOMÁNEK, P.: Correlation Optics. Chernivtsy, Ukraina (11.05.1999)
Detail

TOMÁNEK, P. Fiber tips for reflection scanning near-field optical microscopy. In Near field optics. NATO ASI Series: E Applied sciences, vol. 242. Dordrecht: Kluwer Academic Publishers, 1993. p. 295-302. ISBN: 0-7923-2394-7.
Detail

LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Locally resolved topography and spectroscopy of semiconductors (with lateral resolution better than 250 nm). In Electronic devices and systems (EDS´98). Brno: Technical University of Brno, 1998. p. 169 ( p.)ISBN: 80-214-119.
Detail

BRÜSTLOVÁ, J. Mikroskopický selfkonzistentní model výpočtu blízkého pole. In Radioelektronika 98. 2. Brno: VUT Brno, 1998. s. 446 ( s.)ISBN: 80-214-098.
Detail

TOMÁNEK, P., DOBIS, P., GRMELA, L., BRÜSTLOVÁ, J. Vizualizace latentních obrazů pomocí optiky v blízkém poli. In Workshop 97. 3. Praha: CTU Publ.house Prague, 1997. s. 1021 ( s.)
Detail

TOMÁNEK, P., GRMELA, L. Subwavelength lithography with reflection near field optical microscopy. In 5th CO-MAT-TECH 97. Bratislava: STU Bratislava, 1997. p. 157 ( p.)ISBN: 80-227-097.
Detail

LÉTAL, P., TOMÁNEK, P., DOBIS, P., BRÜSTLOVÁ, J., GRMELA, L. Local spectroscopy by scanning near-field optical microscopy. Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics, 1998, vol. 5, no. 3, p. 215 ( p.)ISSN: 1210-2717.
Detail

TOMASSETTI, G. RITUCCI A. KUKHLEVSKY, S.V. KAISER, J. PALLADINO, L. REALE, L. FLORA, F. MEZI, L. KOZMA, I. Z. LIMONGI, T. SAMEK, O. LIŠKA, M. Intense XUV emission generated by a capillary discharge based apparatus. Czechoslovak Journal of Physics, 2002, vol. 52, no. 3, p. 405-421. ISSN: 0011-4626.
Detail

KUKHLEVSKY, S.V. KOZMA, I.Z. RITUCCI, A. KAISER, J. TOMASSETTI, G. REALE, A. SAMEK, O. Atomic model calculations of gain in the 46,9 nm transition of Ne-like Ar. Contributions to Plasma Physics, 2002, vol. 42, no. 1, p. 109-119. ISSN: 0863-1042.
Detail

KUKHLEVSKY, S.V. –KAISER, J. -SAMEK, O. –LIŠKA, M. – EROSTYÁK, J. Stark spectroscopy measurements of electron density of abaltive discharges in Teflon-(CF2)n capillaries. Journal of Physics D: Applied Physics, 2000, vol. 33, no. 3, p. 1090 ( p.)ISSN: 0022-3727.
Detail

KUKHLEVSKY, S.V. –NYITRAY, G. –KANTSYREV, V. –KAISER, J. Detailed structure of fs pulses passing through straigth and tapered optical waveguides. Optics Communications, 2001, vol. 192, no. 6, p. 225 ( p.)ISSN: 0030-4018.
Detail

KUKHLEVSKY, S.V. –KAISER, J. –REALE, A. –TOMASSETTI, G. –PALLADINO, L. –RITUCCI, A. –LIMONGI, T. –FLORA, F. –MEZI, L. Capillary discharge experiment for collisional excitation soft X-ray laser. Journal de Physique IV, 2001, vol. 11, no. 11, p. 583 ( p.)ISSN: 1155-4339.
Detail

TOMÁNEK, P. Mikroskopie v blízkém poli s lokální sondou. Jemná mechanika a optika, 1998, roč. 43, č. 3, s. 89 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

LÉTAL, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L.; TOMÁNEK, P. Lokální spektroskopie pomocí řádkovacího optického mikroskopu pracujícího v blízkém poli. Inženýrská mechanika - Engineering Mechanics, 1998, roč. 5, č. 3, s. 215-217. ISSN: 1210-2717.
Detail

TOMÁNEK, P.; GRMELA, L.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P. Tunnel noise spectroscopy by reflection SNOM and STM. Proceedings of SPIE, 1997, vol. 3098, no. 1, p. 514 ( p.)ISSN: 0277-786X.
Detail

TOMÁNEK, P.; BRÜSTLOVÁ, J.; DOBIS, P.; GRMELA, L. Hybrid STM/r-SNOM with novel probe. Ultramicroscopy, 1998, vol. 71, no. 1-4, p. 199-203. ISSN: 0304-3991.
Detail

TOMÁNEK, P. Optical nanoscale investigation of surface characterics. Proceedings of SPIE, 1999, vol. 3904, no. 1, p. 398 ( p.)ISSN: 0277-786X.
Detail

BENEŠOVÁ, M.; TOMÁNEK, P. Thickness measurement of thin dielectric films by evanescent total reflection fluorescence. Journal of Microscopy, 1999, vol. 194, no. 2/3, p. 434-438. ISSN: 0022-2720.
Detail

Odpovědnost: Liška Miroslav, prof. RNDr., DrSc.