Přístupnostní navigace
E-application
Search Search Close
Ing.
FEEC, UMEL – Researcher
+420 54114 6095jankovsky@vut.cz
Send BUT message
2021
Rychlý detektor radiačního poškození genetické informace, zahájení: 01.03.2021, ukončení: 31.05.2023Detail
2018
Přímo vyhřívaná šablona pro znovuvytvoření kulových pájkových vývodů u elektronických pouzder BGA, zahájení: 01.08.2018, ukončení: 28.06.2019Detail
2015
TG01010054, Zařízení pro dispenzní tisk s velmi vysokým rozlišením, zahájení: 01.05.2015, ukončení: 30.04.2017Detail
2014
Výzkum moderních a inovačních technologií pro propojování a pouzdření v mikroelektronice, zahájení: 01.01.2014, ukončení: 31.12.2016Detail
2013
Vývoj integrovaného regulátoru na bázi kontroleru s výkonovým koncovým stupněm, zahájení: 30.05.2013, ukončení: 31.10.2013Detail
2011
TA01011754, Nové metody čištění elektronických sestav s vyšší účinností, menším ekologickým dopadem a nižší energetickou náročností, zahájení: 01.01.2011, ukončení: 31.12.2014Detail
2010
Integrované 3D vícevrstvé struktury a pouzdra s vnořenými (embeded) součástkami, zahájení: 01.01.2010, ukončení: 31.12.2010Detail
2006
FT-TA3/013, MERIT - Výzkum nových technologií pro kontaktování čipů integrovaných obvodů a vývoj měřicího systému pro analýzu spolehlivosti, zahájení: 01.01.2006, ukončení: 31.07.2009Detail