OK 203

Czech

Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc. - principal person responsible

Faculty of Mechanical Engineering
- responsible department (13.5.2004 - not assigned)
Faculty of Mechanical Engineering
- beneficiary (13.5.2004 - not assigned)

ROUČKA, R., JIRUŠE, J., ŠIKOLA, T. Spot intensity processing in LEED images. Vacuum, 2002, vol. 65, no. 2, p. 121 ( p.)ISSN: 0042-207X.
Detail

KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Vibrational Analysis of the Cantilever in noncontact Scanning Force Microscopy. Surface and Interface Analysis, 2000, vol. 30, no. 1, p. 292 ( p.)ISSN: 0142-2421.
Detail

KALOUSEK, R., DUB, P., ŠIKOLA, T., LOPOUR, F. Fyzikální principy a limity rozlišení bezkontaktní metody AFM - simulace oscilací raménka. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 43 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

MATĚJKA, F., LOPOUR, F., MATĚJKOVÁ, J. Možnosti testování metriky přístrojů STM a AFM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 38 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

ŠIKOLA, T., LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Československý časopis pro fyziku, 2001, roč. 51, č. 1, s. 33 ( s.)ISSN: 0009-0700.
Detail

URBÁNEK, M., SPOUSTA, J., ŠIKOLA, T., ZLÁMAL, J., CHMELÍK, R., HARNA, Z., JIRUŠE, J., JÁKL, M. In situ plošné monitorování optických parametrů tenkých vrstev. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 143 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

LOPOUR, F., KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Vývoj a aplikace zařízení pro UHV SPM. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 133 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

TICHOPÁDEK, P., NEBOJSA, A., ČECHAL, J. Konstrukce elipsometru pro měření tenkých vrstev a povrchů. Jemná mechanika a optika, 2001, roč. 46, č. 4, s. 136 ( s.)ISSN: 0447-6441.
Detail

LENCOVÁ, B. Recent development in methods for electron optical computations. In Microscopy 2001. Barcelona: University of Barcelona, 2001. p. 29 ( p.)
Detail

LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., KALOUSEK, R., MATĚJKA, F., ŠKODA, D. Application of AFM in Microscopy and in Fabrication of Micro/Nanostructures. In 9th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis (ECASIA'01) Book of Abstracts. Avignon, France: P. Marcus, A. Galtayries, N. Frémy, 2001. p. 320 ( p.)
Detail

LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. Fabrication of nanostructures by AFM local Oxidation. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 394 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

TICHOPÁDEK, P.; ŠIKOLA, T.; NEBOJSA, A.; ČECHAL, J. Application of Spectroscopic Ellipsometry in Ultrathin Film Analysis. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 415 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

VOBORNÝ, S., ŠIKOLA, T., PRŮŠA, S., ZLÁMAL, J., BÁBOR, P. Diagnostics and optimization of ion source parameters. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 304 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P. Application of ToF - LEIS for Analysis of Surfaces and Ultra Thin Films. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 404 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

PÁTÍK, K.; ŠIKOLA, T.; LOPOUR, F. Design of Piezoelectric Manipulators for an Application in SPM instruments. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 400 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

KALOUSEK, R., ŠIKOLA, T., BUŠ, V., ŠKODA, D. Noncontact Scanning Force Microscopy - Principles and Simulations. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. p. 369 ( p.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

JURKOVIČ, P., ŠIKOLA, T., BÁBOR, P., ČECHAL, J. Studium ultratenkých vrstevnatých struktur. In Sborník příspěvků konference Nové trendy ve fyzice. Brno: FEI VUT v Brně, 2001. s. 364 ( s.)ISBN: 80-214-1992-X.
Detail

LOPOUR, F., ŠIKOLA, T., ŠKODA, D. AFM - a Tool for a Study of Surfaces, Micro- and Nanostructures. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. p. 394 ( p.)ISBN: 80-214-1892-3.
Detail

KALOUSEK, R., SCHMID, M. A study of metallic surfaces by UHV STM. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. p. 369 ( p.)ISBN: 80-214-1892-3.
Detail

PRŮŠA, S., ŠIKOLA, T., SPOUSTA, J., VOBORNÝ, S., BÁBOR, P., JURKOVIČ, P., ČECHAL, J. Application of TOF - LEIS and XPS for Surface Studies. In Materials Structure & Micromechanics of Fracture (MSMF-3). Brno: Vutium, 2001. p. 486 ( p.)ISBN: 80-214-1892-3.
Detail

Responsibility: Šikola Tomáš, prof. RNDr., CSc.